SUS316奧氏體不銹鋼離子輻照損傷中的溫度效應(yīng)研究

學(xué)院研究部黃專家采用7MeV的Xe26+和1 MeV的Xe20+在室溫和600℃下分別對SUS316SS塊體和TEM試樣進(jìn)行了輻照實(shí)驗(yàn).

利用納米壓痕儀測試材料輻照損傷前后的顯微硬度,利用TEM觀察輻照損傷前后的微觀結(jié)構(gòu)演變,并將室溫和600℃的實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了比對.結(jié)果表明,室溫離子輻照造成SUS316SS中形成大量尺寸在3~8 nm之間的位錯環(huán)缺陷,它們會阻礙材料內(nèi)位錯線的自由移動,進(jìn)而導(dǎo)致材料的硬化.在600℃輻照下,SUS316SS內(nèi)形成了尺寸介于4~12 nm之間的溶質(zhì)原子團(tuán)簇缺陷.盡管其尺寸較室溫輻照下形成的位錯環(huán)有輕微的增大,但是其體積密度較前者顯著地降低,輻照硬化現(xiàn)象發(fā)生了明顯的回復(fù),材料輻照損傷行為存在溫度效應(yīng).